Získejte know-how špičkových expertů: kompletní záznamy a prezentace z 15th Power Analysis & Design Symposium 2026 jsou nyní dostupné
Čt 25.06.2026
blast návrhu napájecích zdrojů, výkonové elektroniky a měření impedance se dnes posouvá rychleji než kdy dříve. Rostoucí nároky na účinnost, EMC, stabilitu a miniaturizaci nutí vývojáře hledat hlubší pochopení fyzikálních jevů i pokročilé metody analýzy. Právě na tyto výzvy se zaměřil letošní 15. ročník Power Analysis & Design Symposium 2026, který tradičně spojuje špičkové odborníky z průmyslu i akademické sféry.
Získejte know-how špičkových expertů:
kompletní záznamy a prezentace z 15th Power Analysis & Design Symposium 2026 jsou nyní dostupné
Oblast návrhu napájecích zdrojů, výkonové elektroniky a měření impedance se dnes posouvá rychleji než kdy dříve. Rostoucí nároky na účinnost, EMC, stabilitu a miniaturizaci nutí vývojáře hledat hlubší pochopení fyzikálních jevů i pokročilé metody analýzy. Právě na tyto výzvy se zaměřil letošní 15. ročník Power Analysis & Design Symposium 2026, který tradičně spojuje špičkové odborníky z průmyslu i akademické sféry. Pokud jste se nemohli zúčastnit živě, máte nyní ideální příležitost dohnat to podstatné - kompletní záznamy přednášek i prezentace jsou k dispozici ke stažení a představují koncentrovaný zdroj praktických zkušeností, modelů i měřicích postupů, které lze okamžitě aplikovat ve vývoji.
Hloubkový pohled na jednotlivé přednášky
Jedním z hlavních taháků byl Christophe Basso (Future Electronics), dlouhodobě uznávaný expert na návrh spínaných zdrojů. Ve své přednášce „Trade Secrets of the Flyback Converter" se zaměřil na aspekty, které běžné návrhové postupy často zjednodušují nebo úplně ignorují. Detailně rozebral vliv rozptylové indukčnosti na cross-regulation, vznik subharmonických oscilací v proudově řízených smyčkách a význam tzv. right-half-plane zero při návrhu regulace. Velký důraz byl kladen na praktické modelování - účastníci získají přístup k hotovým simulačním modelům použitelným v nástrojích jako SIMetrix/SIMPLIS nebo LTspice. To výrazně zkracuje čas potřebný k validaci návrhu a minimalizuje riziko chyb při prototypování.
Na pomezí vysokofrekvenční techniky a obecného návrhu obvodů se pohybovala přednáška Artura Mediana (University of Zaragoza) s názvem „Unleash the Power of the Smith Chart". Smithův diagram zde nebyl prezentován jako akademická pomůcka, ale jako praktický nástroj pro každodenní inženýrskou práci. Mediano ukázal, jak lze intuitivně analyzovat impedanční přizpůsobení, identifikovat parazitní rezonance a optimalizovat návrh bez nutnosti složitých výpočtů. Velkým přínosem byla živá měření na zařízení Bode 500, která jasně demonstrovala, jak se teoretické koncepty promítají do reálného chování obvodů.
Velmi praktickou oblast otevřel Sam Ben‑Yaakov (IRP Systems) ve své přednášce „Capacitances of Nonlinear Capacitors". Zaměřil se na často podceňovaný fakt, že kapacita kondenzátorů - zejména keramických - není konstantní, ale výrazně závisí na DC předpětí. Tento jev má zásadní dopad na návrh napájecích filtrů i decoupling sítí. Přednáška nabídla nejen teoretický popis nelinearity, ale také konkrétní měřicí postupy a modely, které umožňují tyto efekty přesně zahrnout do simulací. Pro vývojáře, kteří řeší stabilitu napájecích větví nebo EMI problémy, jde o klíčové know-how.
Na aktuální trend využití GaN technologií navázal Milan Marjanovic, který se věnoval tématu „Bidirectional GaN Switch Design". Obousměrné spínače na bázi GaN přinášejí nové možnosti v oblasti účinnosti a hustoty výkonu, ale současně kladou vysoké nároky na návrh řízení, ochranných obvodů a layoutu. Přednáška detailně rozebrala praktické problémy, jako jsou přepěťové špičky, řízení dead-time nebo stabilita při rychlých přechodových dějích. Nechyběly konkrétní návrhové postupy a doporučení ověřená v praxi.
Měření jako základ správného návrhu bylo klíčovým tématem prezentace Floriana Hämmerleho (OMICRON Lab) „DC Biased Impedance Measurements". Ukázal, jak zásadně se může impedance komponent měnit při aplikaci DC předpětí a proč je nutné tyto podmínky zohlednit při měření. Představil různé měřicí topologie (One-Port, Shunt-Thru, Adapter) a jejich vhodnost pro konkrétní aplikace. Důraz byl kladen na správnou metodiku, eliminaci chyb měření a interpretaci výsledků - tedy oblasti, které často rozhodují o úspěchu nebo neúspěchu návrhu.
Velký praktický dopad měla i přednáška Aliho Shirsavara (Biricha Digital) zaměřená na EMC debugging napájecích zdrojů. Téma, které trápí prakticky každý vývojový tým. Shirsavar systematicky ukázal, jak identifikovat zdroje rušení, jak správně měřit (včetně práce s osciloskopem a spektrální analýzou) a jak následně navrhnout účinná opatření. Velký důraz byl kladen na pochopení fyzikální podstaty problémů - tedy proč dané rušení vzniká a jak jej eliminovat u zdroje, nikoliv jen „hasit následky".
Teoreticky nejhlubší, ale o to přínosnější byla přednáška Stevea Sandlera (Picotest) „Mathematics Behind NISM". Sandler zde představil moderní přístup k analýze stability napájecích sítí pomocí NISM (Non-Invasive Stability Measurement). Tento přístup umožňuje hodnotit stabilitu bez nutnosti zásahů do systému, což je zásadní zejména u komplexních nebo citlivých aplikací. Kombinace matematického aparátu a praktických ukázek poskytuje silný nástroj pro každého, kdo řeší power integrity na vyšší úrovni.
Proč by vás tyto materiály měly zajímat
Záznamy ze sympozia nejsou jen teoretickým přehledem - představují praktický pracovní nástroj, který vám může pomoci:
- zkrátit vývojový cyklus díky přesnějším modelům a simulacím,
- eliminovat problémy s EMC ještě před laboratorním testováním,
- správně dimenzovat a měřit komponenty v reálných provozních podmínkách,
- lépe porozumět dynamice napájecích systémů a zajistit jejich stabilitu,
- efektivně využít moderní technologie jako GaN bez zbytečných rizik.
Každá přednáška přináší konkrétní „takeaways", které lze okamžitě aplikovat - od simulačních modelů přes měřicí postupy až po návrhové strategie.
Okamžitý přístup ke znalostem
Veškeré prezentace i videozáznamy jsou nyní dostupné online. Stačí jednoduchá registrace a získáte přístup k kompletnímu obsahu.
